VASP | 理论计算常见问题解答-36
Q1：朱老师，CONTCAR都是分数坐标吗？不能输出的是迪卡坐标？那优化后的晶面模型，如果要吸附分子，那要将CONTCAR再变成迪卡坐标，F和T，要重新输入？
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同步辐射如何表征催化材料？
1971年，Sayers、Stern和Lytle基于单电子单次散射理论，提出了X射线能量与被测材料结构之间的关系，并给出了被广泛接受的表达式。他们结合傅里叶变换，将几何结构与XAS特征清晰地关联起来，从而使XAS成为表征材料结构的有力工具。
如何表征选择性还原？
长程有序与缺陷：扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）通过分析吸收边后随能量振荡的信号，可确定原子间的键长、键角及配位原子种类，为研究材料的长程有序结构与缺陷提供直接依据。
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粉末XRD衍射仪助力材料结构深入分析
在材料科学研究中，粉末 X 射线衍射（XRD）仪是剖析材料晶体结构的重要利器。它以布拉格方程为理论基石，通过捕捉 X 射线与样品相互作用产生的衍射信号，揭开材料微观结构的神秘面纱。
如何通过RDF分析材料结构？
径向分布函数（Radial Distribution Function，简称RDF）是材料科学中用于分析材料微观结构的重要工具。它通过量化原子或分子在空间中的分布情况，揭示材料的短程有序性和长程无序性，从而为材料设计、性能优化和结构解析提供关键信息。以下将从R
硅碳负极如何表征？
达尔豪斯大学J. R. Dahn团队通过X射线衍射等技术，发现Si/C_1材料中硅簇尺寸小于1nm，比容量达～2000 mAh g⁻¹，且可逆堆叠增长低，显著提升稳定性。该团队还通过多种电池测试，表明含50% Si/C_1的多层pouch电池在80次循环后容量